1：IC制造工藝的發(fā)展，持續(xù)增加著VLSI電路的集成密度，亦日益加大了電路故障測試的復(fù)雜性和困難度。
2：對所設(shè)計的邏輯電路和系統(tǒng)進(jìn)行故障測試的難易程度.
